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Transmission Electron Microscopy(影印版)

Transmission Electron Microscopy(影印版)

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丛书名:Transmission Electron Microscopy(影印版)
作者:张效锋/张泽
出版社:清华大学出版社
出版日期:1999-01
ISBN:730203589
版次:1 页数:360 字数: 开本:787×960 1/16
包装:精装

定价:58.0 折扣:80折
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内容简介

编辑推荐:本书是海内外电子显微学工作者国际合作的成果。全书分为I、II两卷。I卷阐述电子显微学理论及方法,这里涉及到的都是近年来的最新进展,同时介绍了这些理论和方法在材料科学中的重要作用。II卷主要介绍电子显微学在材料科学等方面的应用。涉及到三类材料。一类是具有巨大工业应用前景的材料,如半导体、超导体;第二类包括用其他手段难以进行研究的严惩畸变材料,低维纳米材料;第三类是具有非常复杂结构的高分子材料。

目录

CHAPTER1 The Guidance Role of HRTEM in Developing Mesoporous Molecular Sieves
CHAPTER2 HREM Study of Carbon Nanoclusters Grown from Carbon Arc-Disharge
CHAPTER3 Determining the Helicity of Carbon Nanotubes by Electron Diffraction
CHAPTER4 Low Dimensional Materials and Their Microstrues Studied by High Resolution Electron Microscopy
CHAPTER5 Microstructures of High-T.Superconducting Josephson Junctions
CHAPTER6 Swift Heavy lon lrradiation Damage in YB2CU3O7-8Superconductors

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