内容简介
作 者:(日) 进藤大辅, 平贺贤二等合著 刘安生译 页数:186页 出版社:冶金工业出版社 出版日期:1998
简介:2002年第2次印刷, 价格为CNY68.00:有书目和索引。:本书是一本关于高分辨电子显微方法原理、实验技术、在材料中的应用以及相关周边技术的书。
目录
第1章 高分辨电子显微方法的基础
1.1 透射电子显微镜的原理
1.2 电子散射和傅里叶变换
1.3 高分辨电子显微像的形成
1.3.1 薄膜试样的高分辨电子显微像
1.3.2 电子显微镜的分辨率
1.3.3 厚度样的高分辨电子显微像
1.4 高分辨电子显微像的计算机模拟
1.4.1 程序的构成和输入的参数
1.4.2 在考虑晶格缺陷和吸收时的计算模拟
1.4.3 程序的检查
参考文献
第2章 高分辨电子显微方法的实验
2.1 高分辨电子显微像的种类
2.1.1 晶格条纹
2.1.2 一维结构像
2.1.3 二维晶格像
2.1.4 二维结构像
2.1.5 特殊的像
2.2 高分辨电子显微镜观察
2.2.1 像观察前的注意事项
2.2.2 像观察前的注意事项
2.2.3 拍摄像的选择
2.2.4 像解释时的注意事项
2.2.5 高分辨电子显微镜观察的练习
参考文献
第3章 高分辨电子显微方法的应用
3.1 晶格缺陷、表面和界面的高分
3.1.1 位错
3.1.2 晶界和相界面
3.1.3 表面
3.1.4 其他结构缺陷
3.2 各种物质的高分辨电子显微像
3.2.1 陶瓷
3.2.2 超导氧化物
3.2.3 有序合金
3.2.4 准晶
参考文献
第4章 高分辨电子显微方法的周边技术
4.1 图像处理
4.1.1 高分辨电子显微像的输入和输出
4.1.2 高分辨电子显微像图像处理的实践
4.2 定量解析
4.2.1 新记录系统的原理
4.2.2 新的图像记录系统的特性
4.2.3 用残差指数解析高分辨电子显微像
4.3 电子衍射方法
4.3.1 电子衍射方法的基础
4.3.2 电子衍射方法的实际操作
4.3.3 各种结构及其电子衍射花样的特征
4.4 弱束方法
4.4.1 弱束方法的原理和特点
4.4.2 弱束像的观察程序
4.5 电子显微镜性能的评价
4.5.1 电子显微镜基本参数的评价
..
北京市公安局丰台分局备案编号：1101080539 
